作物生長(zhǎng)狀況受很多因素的影響，比如作物種子質(zhì)量、土壤環(huán)境、大氣環(huán)境、農(nóng)民種植技術(shù)等等，有些是人為可以控制的，而有些是人們無(wú)法左右的，經(jīng)過(guò)植物學(xué)家研究得出，作物冠層與作物生長(zhǎng)狀況有著重要的關(guān)系，研究作物冠層，能夠研究光能對(duì)植物生長(zhǎng)的促進(jìn)作用，而這些都離不開(kāi)作物冠層分析儀，作物冠層分析儀主要用于分析植物的冠層狀況，在使用作物冠層分析儀時(shí)除了要避免陽(yáng)光直射，這三點(diǎn)也一定要注意：
　　1.要注意葉片與傳感器的距離
　　作物冠層分析儀是利用傳感器來(lái)進(jìn)行測(cè)量的，因此測(cè)量的過(guò)程中，要注意葉片與傳感器的距離，因?yàn)樘矔?huì)導(dǎo)致測(cè)量的誤差。因此要明確葉片與傳感器的距離限制，如果距離無(wú)法縮小，可以考慮增加重復(fù)次數(shù)來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。
　　2.注意斜坡的影響
　　在測(cè)量的過(guò)程中，有些測(cè)量對(duì)象是在斜坡上的，因此此時(shí)就需要注意了，對(duì)于斜坡測(cè)量，使用作物冠層分析儀的時(shí)候，應(yīng)該盡量使傳感器保持與斜坡相匹配，而不是實(shí)際的水平。
    3.注意樣地尺寸的影響
    由于在測(cè)量的過(guò)程中，要保證傳感器的視野范圍是冠層高度的3倍，因此這就對(duì)樣地的尺寸有要求，如果尺寸太小，勢(shì)必會(huì)影響測(cè)定結(jié)果，但是如果實(shí)在是無(wú)法解決樣地尺寸太小的問(wèn)題，那么可以采用觀(guān)察帽的方法。
　　作物冠層分析儀型號(hào)為T(mén)OP-3000，植物冠層太大，不利于植物的光合作用，這樣植物生長(zhǎng)就會(huì)受阻，作物冠層分析儀分析作物的冠層生長(zhǎng)狀況，從而可以進(jìn)一步分析作物長(zhǎng)勢(shì)。